Información del autor
Autor KOOI, STEVEN B.L. |
Documentos disponibles escritos por este autor (1)
![](./images/expand_all.gif)
![](./images/collapse_all.gif)
![Selecciones disponibles](./images/orderby_az.gif)
![]()
Article : texto impreso
En el proceso de refinado de chips, las mediciones de la capacidad primaria, el freeness, es a menudo constreñida por la limitación de la disponibilidad de un sensor de línea confiable y por el tiempo para lograr los resultados del ensayo. El mé[...]