|
Título:
|
Application of new profilometry using topographic scanning electron microscope to paper surface topography. (1993)
|
|
Autores:
|
ENOMAE, TOSHIHARU ;
ONABE, FUMIHIKO ;
USUDA, MAKOTO
|
|
Tipo de documento:
|
Article : texto impreso
|
|
Dentro :
|
TAPPI JOURNAL (VOL 76NRO 1, ene.1993)
|
|
Artículo en la página:
|
85- 90
|
|
Clasificación:
|
LISURA
MICROSCOPIA ELECTRONICA
PAPEL
PAPELES RECUBIERTOS
PROPIEDADES SUPERFICIALES
TOPOGRAFÍA
|
|
Resumen:
|
El microscopio electrónico de barrido topográfico (SEM) es una nueva técnica empleada para construir un perfil tridimimensional muy fino en forma segura y rápida. Su principio está basado en la teoría que un ángulo de especímen puede ser calculado a partir de la señales de salida de cuatro detectores unidos a un SEM. El propósito de este estudio es verificar la exactitud de los datos de altura dados por esta técnica y examinar su aplicación al papel.La excatitud de la curvas de perfil calaculadas obtenidas por esta técnica fué verificada por comparación con las de un instrumento de pluma.Luego, las imágenes del SEM topográfico fueron tomadas y los hallazgos se discutieron para papel sin pasta mecánica y papel recubierto. Los datos de altura obtenidos por SEM topográfico probaron ser seguros para el primer caso, y proporcionaron información más detallada para las curvas de perfil del papel recubierto.
|
