Información del autor
Autor ONABE, FUMIHIKO |
Documentos disponibles escritos por este autor (1)
![](./images/expand_all.gif)
![](./images/collapse_all.gif)
![Selecciones disponibles](./images/orderby_az.gif)
![]()
Article : texto impreso
El microscopio electrónico de barrido topográfico (SEM) es una nueva técnica empleada para construir un perfil tridimimensional muy fino en forma segura y rápida. Su principio está basado en la teoría que un ángulo de especímen puede ser calcula[...]