Información del autor
Autor ENOMAE, TOSHIHARU |
Documentos disponibles escritos por este autor (2)
Refinar búsqueda
Article : texto impreso
El microscopio electrónico de barrido topográfico (SEM) es una nueva técnica empleada para construir un perfil tridimimensional muy fino en forma segura y rápida. Su principio está basado en la teoría que un ángulo de especímen puede ser calcula[...]Article : texto impreso
El examen por SEM de las trazas dejadas por la pluma cuando se realiza la perfilometría de pluma, ha mostrado que el marcado con la pluma depende de las condiciones de ésta ( radio y carga ) y de la dureza superficial del papel. La presión críti[...]